Kiểm tra tia X tự động (AXI) là một công nghệ dựa trên các nguyên tắc tương tự như kiểm tra quang học tự động (AOI). Nó sử dụng tia X làm nguồn sáng, thay vì ánh sáng nhìn thấy, để tự động kiểm tra các chi tiết thường bị che khuất.
Kiểm tra bằng tia X tự động được sử dụng rộng rãi trong nhiều ngành công nghiệp và ứng dụng, chủ yếu với hai mục tiêu chính:
Tối ưu hóa quy trình, tức là sử dụng kết quả kiểm tra để tối ưu hóa các bước xử lý tiếp theo.
Phát hiện bất thường, tức là kết quả kiểm tra đóng vai trò là tiêu chí để loại bỏ một bộ phận (để phế liệu hoặc làm lại).
Trong khi AOI chủ yếu được liên kết với sản xuất điện tử (do được sử dụng rộng rãi trong sản xuất PCB), AXI có phạm vi ứng dụng rộng hơn nhiều. Nó trải rộng từ việc kiểm tra chất lượng vành xe hợp kim đến việc phát hiện các mảnh xương trong thịt chế biến. Bất cứ nơi nào sản xuất số lượng lớn các mặt hàng rất giống nhau theo một tiêu chuẩn nhất định, việc kiểm tra tự động sử dụng phần mềm xử lý hình ảnh và nhận dạng mẫu tiên tiến (thị giác máy tính) đã trở thành một công cụ hữu ích để đảm bảo chất lượng và cải thiện năng suất trong chế biến và sản xuất.
Với sự phát triển của phần mềm xử lý hình ảnh, số lượng ứng dụng của kiểm tra tia X tự động rất lớn và không ngừng tăng lên. Những ứng dụng đầu tiên bắt đầu trong các ngành công nghiệp mà khía cạnh an toàn của các bộ phận đòi hỏi phải kiểm tra cẩn thận từng chi tiết được sản xuất (ví dụ: các mối hàn của các bộ phận kim loại trong các nhà máy điện hạt nhân) vì công nghệ này ban đầu được dự đoán là rất đắt đỏ. Nhưng với việc áp dụng rộng rãi hơn công nghệ này, giá cả đã giảm đáng kể và mở ra lĩnh vực ứng dụng rộng lớn hơn cho kiểm tra tia X tự động - một phần được thúc đẩy bởi các khía cạnh an toàn (ví dụ: phát hiện kim loại, thủy tinh hoặc các vật liệu khác trong thực phẩm chế biến) hoặc để tăng năng suất và tối ưu hóa quy trình chế biến (ví dụ: phát hiện kích thước và vị trí của các lỗ trên pho mát để tối ưu hóa các mẫu cắt lát).[4]
Trong sản xuất hàng loạt các mặt hàng phức tạp (ví dụ như trong sản xuất điện tử), việc phát hiện sớm các khuyết tật có thể làm giảm đáng kể chi phí tổng thể, vì nó ngăn chặn việc sử dụng các bộ phận bị lỗi trong các bước sản xuất tiếp theo. Điều này mang lại ba lợi ích chính: a) cung cấp phản hồi ở giai đoạn sớm nhất có thể về việc vật liệu bị lỗi hoặc các thông số quy trình bị mất kiểm soát, b) ngăn chặn việc gia tăng giá trị cho các linh kiện đã bị lỗi và do đó giảm chi phí tổng thể của một khuyết tật, và c) làm tăng khả năng xảy ra lỗi trong quá trình sử dụng sản phẩm cuối cùng, vì khuyết tật có thể không được phát hiện ở các giai đoạn sau trong kiểm tra chất lượng hoặc trong quá trình thử nghiệm chức năng do số lượng mẫu thử nghiệm hạn chế.
Thời gian đăng bài: 28/12/2021