Hầu hết các CT công nghiệp đều cóCấu trúc đá granite.Chúng tôi có thể sản xuấtlắp ráp cơ sở máy đá granit với đường ray và ốc vítcho tia X và CT tùy chỉnh của bạn.
Optotom và Nikon Metrology đã thắng thầu cung cấp hệ thống Chụp cắt lớp điện toán tia X khổ lớn cho Đại học Công nghệ Kielce ở Ba Lan.Hệ thống Nikon M2 là một hệ thống kiểm tra mô-đun có độ chính xác cao với bộ điều khiển 8 trục được cấp bằng sáng chế, siêu chính xác và ổn định được chế tạo trên nền đá granit cấp độ đo lường.
Tùy thuộc vào ứng dụng, người dùng có thể chọn giữa 3 nguồn khác nhau: Nguồn lấy nét vi mô 450 kV độc đáo của Nikon với mục tiêu quay để quét các mẫu lớn và mật độ cao với độ phân giải micromet, nguồn lấy nét nhỏ 450 kV để quét tốc độ cao và nguồn lấy nét vi mô 225 kV nguồn với mục tiêu quay cho các mẫu nhỏ hơn.Hệ thống sẽ được trang bị cả máy dò tấm phẳng và máy dò mảng đi-ốt tuyến tính cong (CLDA) độc quyền của Nikon để tối ưu hóa việc thu thập tia X mà không thu lại các tia X phân tán không mong muốn, mang lại độ sắc nét và độ tương phản hình ảnh đáng kinh ngạc.
M2 lý tưởng cho việc kiểm tra các bộ phận có kích thước khác nhau, từ mẫu nhỏ, mật độ thấp đến vật liệu lớn, mật độ cao.Việc lắp đặt hệ thống sẽ diễn ra trong một hầm chứa dành riêng cho mục đích đặc biệt.Các bức tường cao 1,2 m đã được chuẩn bị sẵn sàng cho việc nâng cấp trong tương lai lên các dải năng lượng cao hơn.Hệ thống tùy chọn đầy đủ này sẽ là một trong những hệ thống M2 lớn nhất trên thế giới, mang đến cho Đại học Kielce tính linh hoạt cao độ để hỗ trợ tất cả các ứng dụng có thể có từ cả nghiên cứu và ngành công nghiệp địa phương.
Các thông số hệ thống cơ bản:
- Nguồn bức xạ minifocus 450kV
- Nguồn bức xạ vi tiêu điểm 450kV, loại “Mục tiêu quay”
- Nguồn bức xạ 225 kV loại “Mục tiêu quay”
- Nguồn bức xạ “mục tiêu đa kim loại” 225 kV
- Máy dò tuyến tính CLDA của Nikon
- máy dò bảng với độ phân giải 16 triệu pixel
- khả năng kiểm tra các thành phần lên tới 100 kg
Thời gian đăng: 25/12/2021